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粗糙度儀測量平臺

簡要描述:
粗糙度儀測量平臺:粗糙度儀配件絲桿升降平臺設有V型槽,用于精確測量小工件。平臺材質為花崗巖,精度00級,大小尺寸不同,升降高度可調。微調平臺X-Y平面轉角可調,旋轉角度有粗調和微調兩種范圍。

更新時間:2024-06-20

訪問量:580

廠商性質:代理商

生產地址:寧波

品牌其他品牌產地類別國產
應用領域綜合

粗糙度儀配件絲桿升降,平臺上設置V型槽,用來測量形狀較小的工件,可提高測量精度。

TIME®3220T測量平臺

ETA620測量平臺

絲桿升降,平臺上設置V型槽,用來測量形狀較小的工件,可提高測量精度。

花崗巖平臺工作面精度:00級(平面公差值3μm )

花崗巖平臺大小尺寸:400mm×250mm×70mm

垂直升降高度:300±1mm

升降回程誤差:≤手輪旋轉1/6圈

粗糙度儀測量平臺

ETA650測量平臺

垂直方向上的升降高度:300±1mm(微調由儀器上的可調支架完成)

垂直方向上的旋轉角度:±45

回程誤差:不大于手輪的1/6圈

平臺的平面度:00級

花崗巖平臺尺寸:600mm×420mm×80 mm

總高度:695mm

粗糙度儀測量平臺

TA631微調平臺

X—Y平面轉角。

調整范圍:X向±12.5mm Y向±12.5mm

旋轉角度:粗調 360   微調±5

粗糙度儀測量平臺


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