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超聲掃描顯微鏡的3種掃描方式

更新時間:2023-05-04   點擊次數(shù):926次


超聲掃描顯微鏡是屬于無損檢測設(shè)備,我們常見的無損檢測設(shè)備掃描方式有A掃、B掃、C掃三種,它們分別代表什么掃描方式,今天我們簡單概述下,A掃描來源于英文單詞Amplitude,即幅值的意思,也即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測材料中的傳播時間或者傳播距離,縱坐標(biāo)是超聲波反射波的幅值。

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基于A掃的缺陷判定方式,當(dāng)在一個鋼工件中存在一個缺陷,由于這個缺陷的存在,造成了缺陷和鋼材料之間形成了一個不同介質(zhì)之間的交界面,交界面之間的聲阻抗不同,當(dāng)發(fā)射的超聲波遇到這個界面之后,就會發(fā)生反射,反射回來的能量又被探頭接受到,在顯示屏幕中橫坐標(biāo)的一定的位置就會顯示出來一個反射波的波形,橫坐標(biāo)的這個位置就是缺陷在被檢測材料中的深度。這個反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同,反映了缺陷的性質(zhì)。


B掃描來源于英文單詞birightness,亮度的意思,掃描圖像以二維圖像顯示,屏幕顯示的是與聲速傳播方向平行且與工件的測量表面垂直的剖面。其亮度信息,則是通過計算反射回來的超聲波的強弱來確定。


C掃描來源于英文Constant depth,意思是恒定的深度,是對某一深度的截面進行掃描,是二維平面內(nèi)移動并選取A掃描特定深度的點的信號成像,顯示的是水平截面的缺陷信息。


A掃描、B掃描、C掃描總結(jié)概述:

1、A掃描顯示方式即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測材料中的傳播時間或者傳播距離,縱坐標(biāo)是超聲波反射波的幅值。
在一個鋼工件中存在一個缺陷,由于這個缺陷的存在,造成了缺陷和鋼材料之間形成了一個不同介質(zhì)之間的交界面,交界面之間的聲阻抗不同,當(dāng)發(fā)射的超聲波遇到這個界面之后,就會發(fā)生反射,反射回來的能量又被探頭接受到,在顯示屏幕中橫坐標(biāo)的一定的位置就會顯示出來一個反射波的波形,橫坐標(biāo)的這個位置就是缺陷在被檢測材料中的深度。這個反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同,反映了缺陷的性質(zhì)。

2、B掃描方式在掃描圖像以二維圖像顯示,屏幕顯示的是與聲速傳播方向平行且與工件的測量表面垂直的剖面。

3、C掃描就是三維成像掃描,掃描結(jié)果為工件的橫斷面。

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